遥感论文的翻译

Mazzoni等人提出了另一种方法。(2007)并在此命名为扩展荧光检测器(eFLD)，其光谱分辨率为0.03nm，他们估计F在三个主要吸收带。这一系列黑线出现在分辨率非常高的单一吸收带，而不是频谱(见图2)。类似于我们已经描述过的cFLD和iFLD。该方法(eFLD)的主要目的是在所有已知的吸收线中重建表面反射率的单一特征(即波段)。为此，我们假设在这种情况下，局部最大值的辐射光谱没有被相应地吸收——并不总是令人满意的——并且适合于局部最大值，例如R，以获得连续的反射基线，根据以下公式:

就这样。类似的假设是，iFLD只基于反射函数，其F的谱形没有确定(指定)。